德国菲希尔测厚仪总代理菲希尔测厚仪正业科技菲希尔代理
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更新时间：2017-05-19 13:17:14 信息编号：116943234

价格：
面议
工作温度：
12℃
滤芯形式：
韩式滤芯
关键词：
菲希尔测厚仪涂层测厚

谭先生

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详情介绍

产品别名	菲希尔测厚仪面铜测厚	面向地区	全国	工作温度	12℃
滤芯形式	韩式滤芯	贸易属性	内贸	型号	QC-HXT33
样式	筒式

德国菲希尔测厚仪总代理菲希尔测厚仪正业科技菲希尔代理

菲希尔X射线荧光测厚仪XDLM产品菲希尔X射线荧光测厚仪XDLM产品比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。菲希尔Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪（金镍厚度分析仪） XDLM-PCB 200型：PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析元素范围：从元素氯(17)到铀（92），多可同时测定24种元素。形式设计：台式仪器，测量门底部开槽设计。测量方向：由上往下 X射线管：带铍窗口的微聚焦钨管高压：三档：30KV，40KV，50KV 孔径（准直器）：0.2mm 基本滤片：固定测量点尺寸：取决于测量距离和使用的孔径大小；视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸；小测量点约为：0.16mm 测量距离：0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法 X射线探测器：比例接收器 X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪 X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供的产品和完善的解决方案。产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛; 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

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