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正业科技菲希尔上市企业德国菲希尔总代理常熟菲希尔

更新时间:2017-06-01 23:44:32 信息编号:118557739
正业科技菲希尔上市企业德国菲希尔总代理常熟菲希尔
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  • 菲希尔总代理

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详情介绍

产品别名
菲希尔测厚仪
面向地区
全国
工作温度
12℃
滤芯形式
韩式滤芯
贸易属性
内贸
型号
QC-HXT33
样式
筒式

正业科技菲希尔上市企业德国菲希尔总代理常熟菲希尔

PCB铜厚测量仪 菲希尔测厚仪产品主要用孔铜,面铜,铜箔,涂层,镀层,油墨的测厚。在PCB领域菲希尔的产品主要用于检测线路板上的铜厚。涂层,镀层及金镍厚度的分析,另X-RAY射线分析仪可以同时分析多24种元素的情况。其可以测量从氯(17位)到铀(92位)的元素。 如想了解更多可咨询: 菲希尔X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(金镍厚度分析仪) XDLM-PCB 200型:PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。 设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析 元素范围:从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。 形式设计:台式仪器,测量门底部开槽设计。 测量方向:由上往下 X射线管:带铍窗口的微聚焦钨管 高压:三档:30KV,40KV,50KV 孔径(准直器):0.2mm 基本滤片:固定 测量点尺寸:取决于测量距离和使用的孔径大小; 视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸; 小测量点约为:0.16mm 测量距离:0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法 X射线探测器:比例接收器 菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U 菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。
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