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OFP-100-Q光纤OFP-100-Q损耗测试仪

更新时间:2019-01-28 15:35:02 信息编号:194529329
OFP-100-Q光纤OFP-100-Q损耗测试仪
112000≥ 1台
  • 112000.00 元

  • 3v

  • OFP-100-Q

13715297510 0755-83999818-802

942601386

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详情介绍

产品别名
OFP-100-Q
面向地区
品牌
3v
加工定制
检测对象
气体

OFP-100-Q光纤OFP-100-Q损耗测试仪

OFP-100-Q光纤OFP-100-Q损耗测试仪


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OFP-100-Q/OFP-100-S/OFP-100-M 是专为企业光纤设施设计的全新型 OTDR。此故障排除及验证工具不但功能强大、效率,而且包含有对校园网、数据中心以及存储光纤网络进行故障排除全部所需功能。

OFP-100-Q/OFP-100-S/OFP-100-M OTDR 通过业界的智能手机界面提高了光纤测试的高度,让每一名技师都成为光纤。DataCenter OTDR 配置可减少对数据中心光纤进行测试时所发生的不确定性和错误。其超短的死区允许在虚拟数据中心进行光纤跳线测试。这些功能以及业界快的扫描时间,使 OptiFiber Pro OTDR 成为您的工具。

SmartLoop OTDR(智环 OTDR)可进行自动化测试并在单次测试中完成两根光纤的分析。此套专利申请流程可自动根据单通过/失败分析、显示和报告将两条光纤分离。它不仅可将测试时间至少减半,还能够在无需将 OTDR 移至远端点的情况下进行双向测试。

OTDR 主要技术指标
Multimode 模块 Singlemode 模块 Quad 模块
波长 850 nm +/- 10 nm 1310 nm +/- 25 nm 850 nm +/- 10 nm
1300 nm +35/-15 nm 1550 nm +/- 30 nm 1300 nm +35/-15 nm
1310 nm +/- 25 nm
1550 nm +/- 30 nm
兼容光纤类型 50/125 μm 单模 50/125 μm
62.5/125 μm 62.5/125 μm
单模
事件死区 1 850 nm :0.5 m(典型) 1310 nm :0.6 m(典型) 850 nm :0.5 m(典型)
1300 nm :0.7 m(典型) 1550 nm :0.6 m(典型) 1300 nm :0.7 m(典型)
1310 nm :0.6 m(典型)
1550 nm :0.6 m(典型)
衰减死区 2 850 nm :2.5 m(典型) 1310 nm :3.6 m(典型) 850 nm :2.5 m(典型)
1300 nm :4.5 m(典型) 1550 nm :3.7 m(典型) 1300 nm :4.5 m(典型)
1310 nm :3.6 m(典型)
1550 nm :3.7 m(典型)
动态范围3,5,6 850 nm :一般为 28 dB 1310 nm :一般为 32 dB 850 nm :一般为 28 dB
1300 nm :一般为 30 dB 1550 nm :一般为 30 dB 1300 nm :一般为 30 dB
1310 nm :一般为 32 dB
1550 nm :一般为 30 dB
大距离范围设置 40 km 130 km MM:40 km
SM:130 km
距离测量范围 4,5,7,8,9,10 850 nm :9 km 1310 nm :80 km 850 nm :9 km
1300 nm :35 km 1550 nm :130 km 1300 nm :35 km
1310 nm :80 km
1550 nm :130 km
反射范围 4,5 850 nm :一般为 -14 dB 至 -57 dB 1310 nm :一般为 -14 dB 至 -65 dB 850 nm :一般为 -14 dB 至 -57 dB
1300 nm :一般为 -14 dB 至 -62 dB 1550 nm :一般为 -14 dB 至 -65 dB 1300 nm :一般为 -14 dB 至 -62 dB
1310 nm :一般为 -14 dB 至 -65dB
1550 nm :一般为 -14 dB 至 -65 dB
采样分辨率 3 cm 至 400 cm 3 cm 至 400 cm 3 cm 至 400 cm
脉冲宽度(额定) 850 nm :3, 5, 20, 40, 200 ns 1310/1550 nm:, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 ns 850 nm :3, 5, 20, 40, 200 ns
1300 nm :3, 5, 20, 40, 200, 1000 ns 1300 nm :3, 5, 20, 40, 200, 1000 ns
1310/1550 nm:, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 ns
测试时间(每波长) 自动设置:一般为 5 秒 自动设置:一般为 10 秒 自动设置:
MM – 一般为 5 秒
SM – 一般为 10 秒
快速测试设置: 快速测试设置: 快速测试设置:
一般为 2 秒 一般为 5 秒 MM – 一般为 2 秒
SM – 一般为 5 秒
佳分辨率设置: 佳分辨率设置: 佳分辨率设置:
2 到 180 秒 5 到 180 秒 MM – 2 到 180 秒 M
SM – 5 到 180 秒
FaultMap 设置: FaultMap 设置: FaultMap 设置:
2 秒(一般),180 秒(大) 10 秒(一般),180 秒(大) MM - 2 秒(一般),MM - 180 秒(大)
SM - 10 秒(一般),SM - 180 秒(大)
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