E4991A射频阻抗/材料分析仪

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E4991A射频阻抗/材料分析仪

【东莞惠升仪器】【二手/进口仪器】【回收/收购电子仪器】

销售经理：罗小姐 客服

【回收仪器】【二手/示波器】【电子仪器仪表回收】

技信咨询：罗先生 客服

主要特性与技术指标 基本精度

基本精度+/-0.8%
扫描参数
频率：1 MHz 至3 GHz
振荡器电平：高达1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件E4991A-001）：+/- 40V 或+/- 50 mA
更多特性
Windows 风格的用户界面
内置VBA 编程功能
通过LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
介电/磁性材料测量（选件E4991A-002）
可靠的晶圆测量（选件E4991A-010）
温度特性测量（选件E4991A-007）
频率：1 MHz 至 3 GHz
·振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
·DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
Agilent E4991A射频阻抗/材料分析仪更多特性：
·内置 VBA 编程功能
·通过 LAN 接口进行数据传输
·多功能测量选件
--介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）
--可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）
--温度特性测量（选件 E4991A-007）
基本精度 +/-0.8%
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

更多特性
Windows 风格的用户界面
内置 VBA 编程功能
通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
描述
E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。
它将为元器件和电路设计人员测量3 GHz 以内的元器件提供创新功能，
帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电
压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。
基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。
内置合成器具有1 MHz到3 GHz 的扫描范围和1 mHz的分辨率。

特性：Agilent E4991A带宽频率覆盖1 MHz 到 1 GHz的范围，
能提供完整的介电/磁性材料测
量解决方案。
·晶圆测量：借助E4991A-010 探针台连接套件，
客户可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射
频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。
·温度特性评估：温度特性测试套件 E4991A-007
是一款为元器件和材料进行温度特性测量的
新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C
广泛的温度范围内提供的温度特性分
析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
Agilent E4991A射频阻抗/材料分析仪提供极限阻抗测量性
能和功能强大的内置分析功能.
·基本精度： +/-0.8%
·扫描参数
·
介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）
可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）
温度特性测量（选件 E4991A-007）
E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
材料评估
E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助E4991A-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。
温度特性评估
温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。