Renishaw雷尼绍Raman-AFM联用系统
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更新时间：2018-12-29 12:16:01 信息编号：224284060

价格：
面议
品牌：
0.01mm
材质：
是
关键词：
Renishaw,Raman-AFM联用系统

陈玉芝

13823544658 0755-83253528

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详情介绍

Renishaw雷尼绍Raman-AFM联用系统

产品别名	Renishaw,Raman-AFM联用系统	面向地区	广东深圳	品牌	0.01mm
材质	是	精度	0.01mm	量程	50.8mm

具体价格和库存请您电话咨询后再确定！了解更多产品信息致电：陈玉芝 138 2354 4658 ，林明鑫 131 6832 9898，李文霞 0755 - 83253528
您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。

联用系统优势：

原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，正确的分析区域。

inVia和SPM/AFM可同时作为立系统使用，而不会影响两者的任何性能。

得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。

可实现针尖增强拉曼测量（TERS），获得纳米尺度的化学信息。

选择好的系统：

雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有的灵活性，能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上：

Bruker Nano Surfaces

Nanonics

NT-MDT

JPK

Park

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