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日本CCS晰写速光学希希爱视四川成都重庆陕西西安总代理西崎供应

更新时间:2019-03-16 17:11:06 信息编号:238666406
日本CCS晰写速光学希希爱视四川成都重庆陕西西安总代理西崎供应
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详情介绍

产品别名
日本CCS晰写速,日本CCS希希爱视,日本CCS晰写速西崎,日本CCS
面向地区
品牌
日本CCS晰写速光学希希爱视
类型
其它

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通过“照明解决方案”, 为世界各地的“制造业”做出贡献。

CCS 以自成立以来积攒下的专有技能和技术经验为基础, 通过对光的波长、照射距离、照射角度等各种元素进行搭配结合,

为您提供佳光环境的“照明解决方案”

日本CCS晰写速光学(希希爱视)的主要产品有:

1、日本CCS晰写速光学(希希爱视)环形光源:

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日本CCS晰写速光学(希希爱视)成都重庆西安地区的都看过来

LDR2 系列

从形成角度的发光部照射直射光。

用途: 字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、 二维代码读取等

LDR2-LA 系列

从形成角度的发光部低角度照射直射光。

用途: 金属表面的刻印、损伤与污垢检测、 异物混入检测等

LDR-LA1 系列

从水平方向的发光部低角度照射直射光。

用途: 金属表面的刻印、损伤与污垢检测、 异物混入检测等

SQR 系列

从上方照射直射光。

用途: 字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、 二维代码读取等

SQR-TP 系列

从形成角度的发光部低角度照射直射光。

用途: 金属零件的外观检测、损伤与污垢检测等

HLDR-IP 系列

照射通过镜头集光的扩散光。

用途: 金属零件的缺陷检测、橡胶零件的外观检测、 粘合剂涂抹状态检测(UV)等

HPR2 系列

采用的照射结构实现高自由度的均匀范围。

用途: 通过高角度均匀照射、 低角度特征提取进行的检测等

LFR 系列

从平坦的发光面照射扩散光。

用途: 基板上的封装零件检测、 金属零件的表面检测等

LKR 系列

从形成角度的发光部照射扩散光。

用途: 通过焊锡检测、颜色识别进行不同品种混入检测、 光泽表面的污垢检测等

FPR 系列

从形成角度的发光面照射低角度扩散光。

用途: 金属零件的边缘检测、电子零件的字符识别等

2、日本CCS晰写速光学(希希爱视)方形光源

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FPQ3 系列   New

4个方向以低角度照射扩散光。传统产品2倍的高输出。

用途:电子零件的字符识别、食品容器的外观检测、基板的外观与图案检测等

FPQ2 系列

4个方向以低角度照射扩散光。

用途:电子零件的外观检测、字符识别、针或引脚的弯曲、污垢检测等

3、日本CCS晰写速光学(希希爱视)条形光源

 img_a03_ldl2.jpg

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LDL2 系列

从线性封装LED的发光部照射直射光。

用途:带发纹金属的损伤检测、 异物与有无检测等

LDLB 系列 <新增防水型>

控制器内置的条形光源,适用于大型被测物体。

用途: 机器人拾取用光源、不同品种混入检测、 大型被测物体的外观检测等

HLDL2 系列

照射大型被测物体的佳直射光。

用途: 机器人拾取用光源、大型被测物体的外观检测、 不同品种混入检测等

 

4、日本CCS晰写速光学(希希爱视)平面光源

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TH2 系列 (高亮度型)   New

从平坦的发光面照射扩散光。

用途: 液面检测、针孔检测、外观检测、 金属零件的毛刺检测等

TH2 系列 (高指向性型)   New

照射指向性较高的扩散光。

用途: 尺寸测量、外观检测、损伤与污垢检测、 缺陷检测等

TH2 系列 (大型)   New

适用于大型被测物体的平面光源。

用途: 大型被测物体的液面检测、 外观检测、异物检测等

TH2 系列 (宽型)   New

适用于长方形被测物体及线阵相机的平面光源。

用途: 长方形被测物体的外观检测、片状被测物体的缺陷检测等

TH2 系列 (开孔型)   New

从与相机同轴的方向进行照射的平面光源。

用途: 外观检测、异物、污垢检测、 刻印字符读取、金属零件的密封材料 FIPG)涂抹状态检测等

TH 系列

从平坦的发光面照射扩散光。

用途: 液面检测、针孔检测、外观检测、 金属零件的毛刺检测等

LFL 系列

从平坦的发光面照射扩散光。

用途: 液面检测、外观检测、 包装品的破裂、污垢检测等

5、日本CCS晰写速光学(希希爱视)圆顶光源

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HPD2 系列

利用圆顶形状的反射板均匀地照射扩散光。

用途: 光泽表面、曲面、凹凸面的外观、印字、颜色识别检测、刻印、损伤与污垢检测等

LDM2 系列

从圆锥形发光面照射扩散光。

用途: 光泽表面、曲面、凹凸面的外观、印字、颜色识别检测、焊锡检测等

LAV 系列

利用扩散光光源与同轴光源的复合结构均匀地照射扩散光。

用途:镀金不良检测、密封内的对象物检测、 光泽面的异物附着检测等

PDM 系列

利用扩散光光源、同轴光源与低角度光源的复合结构。

用途:镀金不良检测、密封内的对象物检测、 光泽面的异物附着检测等

6、日本CCS晰写速光学(希希爱视)平面无影光源

 

日本CCS晰写速光学(希希爱视)成都重庆西安地区的都看过来

LFX3 系列

以平面外壳实现了圆顶光源的效果。

7、日本CCS晰写速光学(希希爱视)同轴光源


LFV3 系列

从与相机同轴的方向均匀地照射扩散光。

用途: 光泽表面、镜面的缺陷、损伤、 刻印、凹陷检测等

MSU 系列

采用的光源技术照射平行度高的扩散光。

用途: 光泽表面的细微损伤检测等

MFU 系列

采用的光源技术照射平行度高的扩散光。

用途: 精密的外观检测、尺寸测量等

8、日本CCS晰写速光学(希希爱视)紫外光源红外光源

UV2 系列

使用高输出UV-LED的UV光源。

用途: 通过激发荧光进行密封材料的有无检测等

UV系列

备有使用UV-LED的各种光源产品阵容。

用途:隐形代码的读取等

LNSP-UV-FN 系列

使用高输出UV-LED的UV线光源。  

用途: 通过激发荧光进行密封材料的有无检测等

IR2 系列

备有使用IR-LED的各种光源产品阵容。

用途: 透过液体检测内部异物等

 

9、日本CCS晰写速光学(希希爱视)点光源

HLV3 系列   New!

-兼具高输出、高均匀性

-降低亮度个体差异

-与传统产品相比 实现大2倍的高输出化

HLV2 系列

采用的光学设计照射高输出的点光。

用途: 尺寸测量用光源、点照射用光源等

LV 系列

采用的集光技术照射点光。

用途: 尺寸测量用光源、点照射用光源等

 

10、日本CCS晰写速光学(希希爱视)LED光源机

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PFB3 系列  New!

-可替代100W卤素光源的亮度

-确保调光的可控性

HFS 系列

采用集光技术的LED光纤光源系统(直线形)。

用途:对准标记成像等

HFR 系列

采用集光技术的LED光纤光源系统(环形)。

用途:对准标记成像等

HLV2-22-NR-3W 系列

采用的光学设计照射高输出的点光。

用途: 微型光纤照射头光源

HLV2-3M-RGB-3W

采用的光学设计及集光技术照射高输出的点光。

用途: 微型光纤照射头光源

PFBR 系列

实现了超过250W金卤光源的光输出。

用途:连接各种光纤导管使用

PFB2 系列

实现了超过100W卤素光源的光输出。

用途: 连接各种光纤导管使用

11、日本CCS晰写速光学(希希爱视)线光源

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CU-LNSP2/LNSP 系列

作为安装至LNSP系列的同轴光源使用。

LNSP-FN 系列

通过的集光技术实现抑制了光扩散的照射。强制冷却(风扇冷却)型的高输出线光源。

LN 系列

照射集光后的线光。

适用于外观检测、缺陷检测。

LN-HK 系列

照射集光后的线光(高输出型)。

适用于外观检测、缺陷检测

LNSD 系列

用途广泛的高通用性线光源。

适用于鱼眼、损伤、凹痕、异物与污垢检测。

LND2 系列

实现与荧光灯同等亮度且降低了成本的线阵光源。可用于所有线阵传感器检测。

适用于损伤与凹痕检测、异物检测、尺寸测量。

HLND 系列

从线性封装LED的发光面照射扩散光。

适用于异物检测、污垢检测。

LT 系列

运用本公司的光学系统,同时实现高均匀性与高亮度。 可通过扫描速率进行检测,

适用于广泛的用途。 适用于白点检测、划痕检测。

LNV 系列

从与相机同轴的方向照射扩散光。

适用于缺陷检测、污垢检测。

LNDG 系列

采用的光学设计实现斜光照射。

适用于纵向褶皱、纵向条痕、折痕、凹凸、生产线传送方向的损伤检测。

LNIS 系列

采用的光学设计实现两侧斜光照射。

适用于条痕、划痕检测、生产线传送方向的损伤检测。

LNIS-FN 系列

采用的光学设计实现两侧斜光照射。采用强制冷却(风扇冷却)的高输出型。

12、日本CCS晰写速光学(希希爱视)超亮频闪光源

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PF 系列(LDR-PF-LA、LFV-PF)   New

环形低角度型 LDR-PF-LA、同轴型 LFV-PF。实现检测的“高速化”、“提”!

PF 系列(HPD-PF、HPR-PF)

产品种类得到扩充,用途扩大!

PF 系列

利用力频闪发光,进一步加快高速生产线。为提高生产力做出了贡献。

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