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二手硅晶电池方块电阻测试/二手激光椭偏仪(LE-103PV)/瑟米莱伯二手椭偏仪

更新时间:2022-07-14 11:26:03 信息编号:114831953
二手硅晶电池方块电阻测试/二手激光椭偏仪(LE-103PV)/瑟米莱伯二手椭偏仪
150000≥ 1件
  • 150000.00 元

  • 广州

  • XL

  • 二手椭偏仪LE-103PV),瑟米莱伯二手椭偏仪,二手硅晶电池测试,瑟米莱伯椭偏仪

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详情介绍

产品别名
二手硅晶电池测试,二手椭偏仪LE-103PV),瑟米莱伯二手椭偏仪,瑟米莱伯椭偏仪
面向地区
产地
广州
品牌
XL
材料
金属
类型
颜色
红色
加工定制
物理教学仪器

二手硅晶电池方块电阻测试/二手激光椭偏仪(LE-103PV)/瑟米莱伯二手椭偏仪

二手激光椭偏仪(LE-103PV)/瑟米莱伯二手椭偏仪
二手硅晶电池方块电阻测试 / 二手激光椭偏仪(LE-103PV)/ 瑟米莱伯二手椭偏仪


LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变,建立样品相应光学模型,计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。



LE-103PV是Semilab针对光伏市场推出的一款低成本、高集成度的型产品,主要应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性。测试软件操作简单、界面友好、所使用的光学模型与Semilab全光谱椭偏仪丰富的数据库相兼容,方便用户根据实际测试需求建立的测试菜单。
产品特点
可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性
稳定、可自动校准的集成光路
优化设计的156mm多晶和单晶测试平台,方便用户转换单晶和多晶测量
自动变换入射角的设计提高了测试精度,并可实现表面特征雾度(Haze)的测试
采用旋转补偿器测量Psi(0~90°)和Delta(0~360°),可提供更高的测量灵敏度,同时可计算由粗糙表面引起的退偏系数
聚焦微光斑系统优化了反射信号的采集
可集成到在线测量系统,实现快速的在线监控
测试软件兼容PVECS
主要应用
太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试
二氧化硅等介质膜的厚度、折射率和消光系数测试
透明材料的光度学测试
主要技术指标
激光波长: 632.8nm He-Ne激光器
测量时间: 100ms-2sec
膜厚测量范围: 2nm-6000nm(基于SiO2)
厚度测试精度: 0.01nm @120nm SiO2 on Si
折射率测试精度:0.0005 @120nm SiO2 on Si

产品质量书、出厂效证报告及中文操作说明书各一份
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